МИНАТЕХ ООО

СВЯЗАТЬСЯ С ПРЕДПРИЯТИЕМ

Адрес:

Россия, Московская обл., г. Москва, ул. Ткацкая, д.5с1

Телефон:

+7 показать телефоны ,
Фото

Рефлектометр RM 1000

заказать товар
перезвоните мне
×
Заказать обратный звонок
Заказать обратный звонок Нажимая кнопку «ОТПРАВИТЬ», я даю согласие на обработку персональных данных
Ваше имя *
Контактный телефон *
Время, удобное для звонка
E-mail *
Примечание
Цена:
0.00 UAH
договорная
Тип: розница и опт
в наличии
Тел: показать номер

Рефлектометры серии RM 1000/RM 2000 от SENTECH Instruments GmbH

 Спектроскопические (спетральные) рефлектометры моделей RM 1000 и RM 2000 производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) для исследований и производства. Применяются для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света.

Измерение показателя преломления и толщины пленок и абсорбци на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектроники (измерения толщины резистов, окислов и т.д.) 

Спектральный диапазон:

RM 1000:  430-930 нм. 

RM 2000:  200 - 1000 нм.

В область измерений, осуществляемых данными приборами, входят измерения однослойных и многослойных покрытий на полупроводниках, стекле, пластике, металле и глянцевой бумаге

Применение: Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или многослойных прозрачных и полупрозрачных пленок в производстве или лаборатории.

 Особенности

Измерение пленок как на гладких так и на шероховатых поверхностях.

Расширенный диапазон измерения толщин пленок от 2 до 50000 нм (в зависимости от модели).

Размер пятна измерения 80 и 100 мкм, что позволяет проводить измерения напластине с топологией

Высокая стабильность и точность при измерении. 

Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью автоколлиматического телескопа (АСТ).

Полный пакет предустановленных применений в микроэлектронике, фотовольтаике (солнечные элементы) и др.

Дружественный интерфейс и легкость работы.

Высокая скорость измерений

Программное обеспечение FTPadv EXPERT SENTECH для проведения измерений, включающее в себя библиотеку приложений

n, k массивного материала

толщина монослоев

толщина и индекс преломления монослоев

толщина  и  индекс  преломления  верхнего  слоя и многослойной структуры

Большая база данных материалов для измерений

Опции:

- Моторизованные столики с компьютерным управлением для обрацов диаметром до 200 мм и перемещением с высокой точностью для меппинга (картирования)

- Видеокамера для выравнивания образца взамен окуляра с выводом изображения и РС.

- ПО для иммитационного моделирования (SpectraRay/3)

- Установка для измерений пленок на кристаллическом кремнии (текстурированном)

Характеристики

Модель RM 1000 RM 2000
Измеряемые величины Толщина пленки, индекс преломления, абсорбция и др.
Принцып действия Интерферренция белого света при нормальном угле падения Интерферренция белого света при нормальном угле падения
Спектральный диапазон                 430 - 930 нм. 200 - 1000 нм.
Время измерения около 300 мс. около 300 мс.
Диапазон измеряемых толщин 20 - 25000 нм. (в зависимости от пленки) 2 - 50000 нм. (в зависимости от пленки)
Диамерт светового пятна 80 мкм 100 мкм.
Точность измерения тощины 1 нм (изм. 400 нм SiO2/Si)
Воспроизводимость (1σ) 0,3 нм.  (изм. 400 нм SiO2/Si)
Источник света Стаблизированная галогеновая лампа Стабилизированные дейтериумная и галогеновая лампы
Программное обеспечение FTPadv Expert
Рефлектометры серии RM 1000/RM 2000 от SENTECH Instruments GmbH Спектроскопические (спетральные) рефлектометры моделей RM 1000 и RM 2000 производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) для исследований и производства. Применяются для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света. Измерение показателя преломления и толщины пленок и абсорбци на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектроники (измерения толщины резистов, окислов и т.д.) Спектральный диапазон: RM 1000: 430-930 нм. RM 2000: 200 - 1000 нм. В область измерений, осуществляемых данными приборами, входят измерения однослойных и многослойных покрытий на полупроводниках, стекле, пластике, металле и глянцевой бумаге Применение: Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или многослойных прозрачных и пол...еще ►
РУБРИКА:  Рефлектометры
Обновлен 24.04.17
Наши контакты
+7 показать телефоны
+7 (495) 909-89-53
+7 (926) 134-69-15
Россия, Московская обл., г. Москва, ул. Ткацкая, д.5с1
Сообщите, что контактную информацию нашли на портале

A G R O V E K T O R .ru

Напишите нам
мы ответим на все Ваши вопросы
Ваше имя

Ваш телефон

Ваш E-mail

Сообщение



код подтверждения x
2009-2017 © АгроВектор. All rights reserved.
КОРЗИНА ЗАКАЗОВ

Продавец Наименование Кол-во Цена  
ОЧИСТИТЬ КОРЗИНУ
ПРОДОЛЖИТЬ ПОКУПКИ
ОФОРМИТЬ ЗАКАЗ
КОРЗИНА ЗАКАЗОВ (0)
ОФОРМЛЕНИЕ ЗАКАЗА
ВЕРНУТЬСЯ В КОРЗИНУ
ПРОДОЛЖИТЬ ПОКУПКИ
ОТПРАВИТЬ ЗАКАЗ