МИНАТЕХ ООО

СВЯЗАТЬСЯ С ПРЕДПРИЯТИЕМ

Адрес:

Россия, Московская обл., г. Москва, ул. Ткацкая, д.5с1

Телефон:

+7 показать телефоны ,
Фото

Продам: Микроанализатор электронно-зондовый 5-го поколения JXA-8230 JEOL

заказать товар
перезвоните мне
×
Заказать обратный звонок
Заказать обратный звонок
Ваше имя *
Контактный телефон *
Время, удобное для звонка
E-mail *
Примечание
Цена: договорная
Тип: розница и опт
в наличии
Тел: показать номер

Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от JEOL

 Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от  JEOL (Япония).

Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.

 Особенности

Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 – это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.

JXA-8230 позволяет получать не только прекрасные результаты количественного анализа, но и отличного качества изображения поверхности образца во вторичных электронах (разрешение 5нм), исследовать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи спектрометров с дисперсией по энергии или по длинам волн, а также изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов, по сути, работая в режиме растрового электронного микроскопа.

Ключевыми преимуществами электронно-зондового микроанализатора JXA-8230 над растровыми электронными микроскопами являются:

  • высокая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка;
  • высочайшая стабильность и точность перемещения столика образцов;
  • Возможность работы в полностью автоматическом режиме: оператор днем задает точки анализа, микроанализатор ночью собирает данные;
  • высокая чувствительность по следовым элементам;
  • высокая производительность, благодаря одновременной работе до5 волновых и одного энергодисперсионного спектрометров.

По желанию заказчика JXA-8230 комплектуется системой катодолюминесценции. Она позволяет регистрировать спектры свечения образцов под воздействием электронного пучка и проводить картирование поверхности на определенных длинах волн. На выбор доступны два типа систем: подключаемые через оптический микроскоп (разработка компании JEOL Australia) и через порт волнового спектрометра (разработка компании Gatan). Первые из них подключаются к окуляру встроенного в микрозонд оптического микроскопа и позволяют регистрировать катодолюминесценцию в процессе работы с волновыми спектрометрами. Вторые покрывают более широкий спектральный диапазон (от жёсткого ультрафиолета до мягкого инфракрасного излучения), но требует наличия свободного WDS-порта.


Основные преимущества:

  • Высочайшая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка (отклонение не более 0,3% за 12 часов) обеспечивает высокую точность анализа;
  • Электронно-оптическая колонна JXA-8230 позволяет получать изображения хорошего качества даже на больших рабочих отрезках (5 нм на рабочем отрезке 11 мм);
  • Возможность выбора оператором катода в зависимости от решаемых в данный момент задач: дешевый вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований;
  • Мощная электронная пушка обеспечивает широкий диапазон токов пучка (от 1 пА до 10 мкА);
  • Микрозонд JXA-8230 комплектуется энергодисперсионным спектрометром и 1-5 спектрометрами с волновой дисперсией. Последние делятся на 2 типа: высокого спектрального разрешения (используются для фазового анализа) и высокой интенсивности (для анализа состава малых примесей);
  • Большой выбор кристаллов для анализа тяжелых и легких элементов;
  • Высокое энергетическое разрешение спектрометров с дисперсией по длинам волн позволяет регистрировать химические сдвиги линий элементов и точно устанавливать фазовый состав образцов;
  • Точный анализ даже таких легких элементов, как бериллий, бор, углерод, азот и кислород;
  • Высокая механическая стабильность и высокая точность перемещений столика образцов (воспроизводимость положения столика не хуже 0,5мкм);
  • Большой столик образцов позволяет работать с объектами размерами до 100 мм х 100 мм х 50 мм;
  • Вакуумная система с двухстадийной дифференциальной откачкой;
  • Возможность устанавливать множество разнообразных приставок (энергодисперсионный спектрометр, система дифракции отраженных электронов, система катодолюминесценции, рентгеновский микрофокусный источник и т.д.);
  • Возможность установки системы проходящего поляризованного света и работы с прозрачно-полированными пластинами.

Характеристики

Электронно-оптическая система
Источник электронов Катод из вольфрама или гексаборида лантана
Диапазон ускоряющих напряжений 0,2 - 30 кВ (с шагом 100 В)
Диапазон токов пучка 1 пА - 10 мкА
Стабильность тока пучка Не более 0,05% в час
И не более 0,3% за 12 часов
Разрешение на аналитическом рабочем отрезке (11 мм) 5 нм при использовании катода на основе монокристалла LaB6
6 нм при использовании вольфрамового катода
Диапазон увеличений от x40 до х300,000
Изображения, получаемые с детектора отраженных электронов Топология поверхности и контраст по атомному номеру
Цифровое разрешение получаемых изображений До 5120х3840 пикселов
Диаметр зонда 40 нм при 10 кВ и 10 нА
100 нм при 10 кВ и 100 нА
Система микроанализа
Диапазон анализируемых элементов На спектрометрах с дисперсией по длинам волн: от 4Be до 92U
На энергодисперсионном спектрометре: от 5B до 92U
Количество спектрометров С дисперсией по длинам волн: от 1 до 5
Энергодисперсионных: 1
Диапазон детектируемых длин волн От 0,087 до 9,3 нм
Столик образцов
Диапазон перемещений образца X: ±90 мм; Y: ±90 мм
Максимальный размер образца 150 мм х 150 мм х 50 мм
Скорость перемещений столика образцов До 15 мм/с
Точность позиционирования столика образцов Не более 0,5 мкм
Приставки
Устанавливаемые приставки Столик для образцов больших размеров
Система катодолюминесценции
Система дифракции отраженных электронов (ДОРЭ)
Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от JEOL Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от JEOL (Япония). Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов. Особенности Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 – это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава обр...еще ►
РУБРИКА: Анализаторы
Обновлен 24.04.17
Добавлен 24.04.17
Наши контакты
+7 показать телефоны
+7 (495) 909-89-53
+7 (926) 134-69-15
Россия, Московская обл., г. Москва, ул. Ткацкая, д.5с1
Сообщите, что контактную информацию нашли на портале

A G R O V E K T O R .ru

Напишите нам
мы ответим на все Ваши вопросы
Ваше имя

Ваш телефон

Ваш E-mail

Сообщение



код подтверждения x

2009-2017 © АгроВектор. All rights reserved.
КОРЗИНА ЗАКАЗОВ

Продавец Наименование Кол-во Цена  
ОЧИСТИТЬ КОРЗИНУ
ПРОДОЛЖИТЬ ПОКУПКИ
ОФОРМИТЬ ЗАКАЗ
КОРЗИНА ЗАКАЗОВ (0)
ОФОРМЛЕНИЕ ЗАКАЗА
ВЕРНУТЬСЯ В КОРЗИНУ
ПРОДОЛЖИТЬ ПОКУПКИ
ОТПРАВИТЬ ЗАКАЗ