МИНАТЕХ ООО

СВЯЗАТЬСЯ С ПРЕДПРИЯТИЕМ

Адрес:

Россия, Московская обл., г. Москва, ул. Ткацкая, д.5с1

Телефон:

+7 показать телефоны ,
Фото

Эллипсометр лазерный SE 400adv

заказать товар
перезвоните мне
×
Заказать обратный звонок
Заказать обратный звонок Нажимая кнопку «ОТПРАВИТЬ», я даю согласие на обработку персональных данных
Ваше имя *
Контактный телефон *
Время, удобное для звонка
E-mail *
Примечание
Цена:
0.00 UAH
договорная
Тип: розница и опт
в наличии
Тел: показать номер

Лазерный эллипсометр SE 400adv

 SE 400adv - новейший лазерный (сканирующий) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.

Длина волны - 632,8 нм

Диапазон измерения толщины пленк: 1 нм до 6000 нм.

Применение: Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или двухслойных пленок (с известными параметрами подслоя) в производстве или лаборатории.

 Особенности

Высокая стабильность и точность при измерении с источником света (HeNe лазер, 632,8 нм.), термостабилизированный компенсатор, управление поляризатором, детектор сверх низких шумов. 

Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью автоколлиматического телескопа (АСТ).

Полностью интегрированная поддержка для многоугловых измерений с продвинутым программным обеспечением SENTECH. 

Полный пакет предустановленных применений в микроэлектронике, фотовольтаике (солнечные элементы) и др.

Дружественный интерфейс и легкость работы.

Высокая скоростьизмерений

Программное обеспечение SENTECH для проведения эллипсометрических измерений, включающее в себя библиотеку приложений

n, k массивного материала

толщина монослоев

толщина и индекс преломления монослоев

толщина  и  индекс  преломления  верхнего  слоя двойного слоя

заданные эллипсометрические приложения

Опции:

- 30 мкм микроспот (фокусировка пятна)

- Столик с ручной регулировкой x-y (перемещение - 150 мм) для картирования (mapping)

- Моторизованные столики с компьютерным управлением для обрацов диаметром до 200 мм и перемещением с высокой точностью для меппинга (картирования)

- Видеокамера для выравнивания образца взамен окуляра с выводом изображения и РС.

- Жидкостная ячейка

- Автофокусировка в комбинации с моторизованным столиком для выравнивания образцов

- Рефлектометр (Film Thickness Probe) FTPadv с диаметром пятна 80 мкм.

- ПО для иммитационного моделирования (SIMULATION Software)

- Установка для измерений пленок на кристаллическом кремнии (текстурированном) 

Характеристики

Источник и длина волны  632,8 нм
HeNe лазер (< 1 мВт)
Точность измерения ψ и ∆:    0,002о , 0,002о
Точность измерения толщины пленки:  

 0,01 нм на 100 нм SiO2на Si

Точность измерения индекса преломления:  5х10-4 на 100 нм SiO2 наSi
Диапазон измерений для прозрачных пленок:  до 6000 нм
Диапазон измерений для слабоабсорбирующих слоев(полисиликон): до 2000 нм.
Время измерения 10 мс –  1с (зависит от режима измерений)
Диаметр светового пятна около 1 мм
Угол падения луча света Ручной гониометр 40 – 90о, шаг установки 5о
Выравнивание образца, фокусировка Автоколлиматический телескоп (АСТ)
Лазерный эллипсометр SE 400adv SE 400adv - новейший лазерный (сканирующий) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Длина волны - 632,8 нм Диапазон измерения толщины пленк: 1 нм до 6000 нм. Применение: Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или двухслойных пленок (с известными параметрами подслоя) в производстве или лаборатории. Особенности Высокая стабильность и точность при измерении с источником света (HeNe лазер, 632,8 нм.), термостабилизированный компенсатор, управление поляризатором, детектор сверх низких шумов. Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью автоколлиматического телескопа (АСТ). ...еще ►
РУБРИКА:  Метрологическое оборудование
Обновлен 24.04.17
Наши контакты
+7 показать телефоны
+7 (495) 909-89-53
+7 (926) 134-69-15
Россия, Московская обл., г. Москва, ул. Ткацкая, д.5с1
Сообщите, что контактную информацию нашли на портале

A G R O V E K T O R .ru

Напишите нам
мы ответим на все Ваши вопросы
Ваше имя

Ваш телефон

Ваш E-mail

Сообщение



код подтверждения x
2009-2017 © АгроВектор. All rights reserved.
КОРЗИНА ЗАКАЗОВ

Продавец Наименование Кол-во Цена  
ОЧИСТИТЬ КОРЗИНУ
ПРОДОЛЖИТЬ ПОКУПКИ
ОФОРМИТЬ ЗАКАЗ
КОРЗИНА ЗАКАЗОВ (0)
ОФОРМЛЕНИЕ ЗАКАЗА
ВЕРНУТЬСЯ В КОРЗИНУ
ПРОДОЛЖИТЬ ПОКУПКИ
ОТПРАВИТЬ ЗАКАЗ